| Статус: | действующий (Введен впервые) |
| Обозначение: | ГОСТ Р 8.700-2010 |
| Название рус.: | ГСИ. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа |
| Дата актуализации текста: | 17.06.2011 |
| Дата добавления в базу: | 17.06.2011 |
| Дата введения в действие: | 01.11.2011 |
| Разработан в: | ОАО "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" МФТИ (ГУ) ФГУ "Российский научный центр "Курчатовский институт" ГУ РАН "Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова" |
| Утверждён в: | Р (05.04.2010) |
| Опубликован в: | Стандартинформ № 2010 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает методику измерений эффективной высоты шероховатости изотропных поверхностей твердых тел с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа. Настоящий стандарт применяют при измерениях эффективной высоты шероховатости поверхностей твердых тел в диапазоне от 10-9 до 10-5 м. |
| Оглавление: | 1 Область применения 2 Нормативные ссылки 3 Термины и определения 4 Требования к погрешности измерений 5 Средства измерений и вспомогательные устройства 6 Метод измерений 7 Требования безопасности 8 Требования к квалификации операторов 9 Условия измерений 10 Подготовка и проведение измерений 11 Обработка результатов измерений 12 Контроль погрешности результатов измерений 13 Оформление результатов измерений Библиография |
| Ключевые слова: | методика измерений поверхность твердые тела эффективная высота шероховатости поверхности сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп |
| Расположен в: | |